dann ist das also tatsächlich ein problem, das nicht nur bei flash-speichern sondern auch bei eprom, eeprom, etc auftreten kann? klingt logisch. wären die daten durch leckströme/diffusionsverluste verloren gegangen, sollten sich die bauteile trotzdem wieder beschreiben lassen. kam es bpsw. durch ESD zu schäden, sollte ein schaden physischer art im speicher vorliegen und er sich daher nicht korrekt beschreiben/auslesen lassen. (und wenn die eproms mit bloßen händen, evtl. in werkstattumgebung, gehandhabt wurden, liegt die vermutung nahe, dass nicht alle ESD-schutzvorschriften eingehalten wurden).